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SITAU LF

  • phased array dasel

    La inspección de materiales atenuantes como la fibra de vidrio o carbono requieren de transductores de baja frecuencia para mejorar la penetración y la relación señal-a-ruido, también las técnicas con acoplamiento en aire (transmisión, ondas de Lamb, etc) requieren de arrays de baja frecuencia.


    Todos nuestros equipos de la gama SITAU están disponibles en versiones de baja frecuencia (LF) con un ancho de banda entre 30kHz y 2MHz.

     

     

    El sistema permite realizar la adquisición en dos modos diferentes:

    Modo "Phased Array"

    En emisión, el hardware aplica la ley focal programada para cada línea de la imagen B-Scan, permitiendo focalizar a cualquier profundidad y deflectar el haz con un ángulo determinado.

    En recepción, el hardware aplica la ley focal programada, obteniendo, por cada disparo, una señal A-Scan resultado de aplicar los retardos de la ley focal a cada uno de los elementos que forman la apertura activa.

    Modo "Multicanal"

    En emisión, el hardware aplica la ley focal programada para cada línea de la imagen B-Scan, permitiendo focalizar a cualquier profundidad y deflectar el haz con un ángulo determinado.

    En recepción, no se realiza ningún procesamiento con las señales recibidas por cada elemento de la apertura activa, es decir, por cada disparo, se obtienen todas las señales A-Scan recibidas por los elementos de la apertura activa.

    En este modo el sistema funciona como un sistema multicanal teniendo acceso a las señales A-Scan de cada uno de los canales.

  • Emisión:

    -       Amplitud de pulso fija a -100 V ó programable desde -20 V hasta -190 V

    -       Ancho de pulso programable entre y 100 ns y 25.5 us, en pasos de 100 ns

    -       Modo ráfaga de hasta 256 pulsos

    -       Posibilidad de realizar codificación de pulsos (16 bits)

    -       Sincronización del disparo con encoder ó con una señal externa

    Recepción:

    -       Ancho de banda desde 30 KHz hasta 2 MHz (- 3 dB)

    -       Frecuencia de muestro programable desde 157 KHz hasta 40 MHz

    -       Ganancia programable hasta 100 dB

    -       Curva TGC de hasta 2048 puntos

    Procesamiento de señal:

    -       Auto-enfoque.

    o     En inmersión, detecta automáticamente la superficie de entrada al material, y reconfigura las leyes focales para enfocar correctamente en el interior del material.

    o     Con zapata, detecta automáticamente la geometría de la zapata, y configura las leyes focales para una focalización correcta en el interior del material.

    -       Filtro de ruido de grano.

    Elimina, en tiempo real, el ruido de grano del material aplicando la técnica de la coherencia de fase.

    -       Filtro de ruido impulsivo EMI.

    o     Elimina, en tiempo real, el ruido impulsivo

    o     Mejora la detección de los defectos y reduce la generación de falsos positivos

    o     Permite un alto rango dinámico en imágenes C/D-Scan en ambientes con mucho ruido

    -       Focalización dinámica progresiva aplicando una ley focal por cada una de las muestras de los A-Scan que componen la imagen B-Scan (Imagen focalizada en cada muestra por hardware).

    -       Filtrado Paso-banda digital con frecuencias de corte inferior y superior programables.

    -       Compresión de trazas programable, por un factor 1:1 a 128:1, sin pérdida en la información de amplitud y posición

    -       Promediado de trazas. (2, 4, 8, 16, 32, 64, 128, 256)

    -       Focalización fija con focos programables e independiente para la emisión y la recepción, e Independiente por cada línea de la imagen.



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